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六氟化钨

六氟化钨形成的无机化合物,化学式WF6。它是无色、有毒、具腐蚀性的气体,密度约为13 g/L,是空气密度的约11倍[1][2][3],也是密度最大的气体之一。[4]半导体器件制造行业通常用WF6化学气相沉积来形成钨膜。这一层膜用于低电阻率的金属互联[5]它是十七种已知的二元六氟化物之一。

六氟化钨
Tungsten(VI) fluoride
Ball-and-stick model of tungsten hexafluoride
IUPAC名
Tungsten hexafluoride
Tungsten(VI) fluoride
识别
CAS号 7783-82-6 ?
PubChem 522684
SMILES
 
  • F[W](F)(F)(F)(F)F
InChI
 
  • 1S/6FH.W/h6*1H;/q;;;;;;+6/p-6
性质
化学式 WF6
摩尔质量 297.830 g·mol⁻¹
外观 无色气体
密度 12.4 g/L,气态
4.56 g/cm3 (-9 °C,固态)
熔点 2.3 °C(275 K)
沸点 17.1 °C(290 K)
溶解性 水解
结构
分子构型 八面体
偶极矩 0
危险性
欧盟编号 未列出
闪点 不可燃
相关物质
其他阴离子 六氯化钨
六溴化钨
其他阳离子 六氟化铬
六氟化钼
相关化学品 四氟化钨
五氟化钨
若非注明,所有数据均出自标准状态(25 ℃,100 kPa)下。

结构 编辑

WF6分子是八面体形的,空间对称群 Oh。它的W–F键长为183.2 pm[6] 在2.3到17 °C之间,六氟化钨会凝聚成浅黄色液体,密度3.44 g/cm315 °C)。在2.3 °C以下时,它会凝固成立方晶系的白色固体,晶格参数628 pm,计算的密度为3.99 g/cm3。在−9 °C以下,六氟化钨晶体会变成正交晶系,晶格参数a = 960.3 pmb = 871.3 pmc = 504.4 pm,密度为4.56 g/cm3。在这个相态下,W–F键长为181 pm,平均最接近的分子间距离是312 pm。WF6气体是已知密度最高的气体之一,甚至比(9.73 g/L)还高。液态和固态WF6的密度中等。[7] WF6在-70到17 °C下的蒸汽压可以通过以下方程描述:

log10 P = 4.55569 − 1021.208/ T + 208.45,

其中P = 蒸汽压(),T = 温度(°C)。[8][9]

制备 编辑

六氟化钨通常是由氟气粉在350至400 °C下直接反应而成的:[10]

W + 3 F2 → WF6

反应产生的气态产物通过蒸馏与常见的杂质WOF4分离。在直接氟化的一种变体中,将金属置于加热的反应器中,略微加压至1.2至2.0 psi(8.3至13.8 kPa),把恒定流量的WF6注入到少量氟气中。[11]

反应中的氟气可以被替换成ClFClF
3
BrF
3
。另一种制备六氟化钨的方法是三氧化钨(WO3)和HF、 BrF3或SF4的反应。六氟化钨也可以从六氯化钨开始合成:[4]

WCl6 + 6 HF → WF6 + 6 HCl
WCl6 + 2 AsF3 → WF6 + 2 AsCl3
WCl6 + 3 SbF5 → WF6 + 3 SbF3Cl2

反应 编辑

六氟化钨会和水反应,形成氢氟酸(HF)和钨的氟氧化物,最终形成三氧化钨[4]

WF6 + 3 H2O → WO3 + 6 HF

WF6并不是一种有用的氟化剂,也不是强氧化剂。它可以被还原成黄色的WF4[12]

应用 编辑

六氟化钨主要应用于半导体工业的化学气相沉积工艺中,以沉积钨金属。1980年代和1990年代该行业的扩张导致WF6的消费量增加,全球每年的消费量仍保持在200吨左右。钨金属因其相对较高的热稳定性和化学稳定性,以及低电阻(5.6 µΩ·cm)和电迁移而具有吸引力。由于WF6有较高的蒸气压,导致较高的沉积速率,因此优于如WCl6或WBr6的相关化合物。自1967年以来已经开发并采用了两条WF6的沉积路线,即热分解和用氢气还原。[13]这个工艺需要的WF6气体纯度很高。根据应用的不同,六氟化钨需要的纯度在99.98%和99.9995%之间变化。[4]

在化学气相沉积中,WF6分子需要分解,通常通过与氢气、甲硅烷甲锗烷乙硼烷磷化氢和相关的含氢气体混合促进分解。

编辑

WF6会和基质反应。[4]WF6在硅上的分解反应依赖于温度:

2 WF6 + 3 Si → 2 W + 3 SiF4 (低于400 °C)
WF6 + 3 Si → W + 3 SiF2 (高于400 °C)

这种依赖性至关重要,因为在较高温度下消耗的硅是低温下的两倍。钨的沉积仅选择性地发生在纯硅上,在氧化硅或氮化硅上则不能,因此该反应对污染或基板预处理高度敏感。这条分解反应较快,但当钨层厚度达到10–15微米就饱和了。这是因为钨层阻止了WF6分子扩散到硅基质,而硅是该过程中分子分解的唯一催化剂。[4]

如果分解反应不是在惰性环境,而是在含氧环境中发生,产生的层就会是氧化钨,而不是金属钨。[14]

氢气 编辑

六氟化钨和氢气的沉积过程在300到800 °C下发生,并产生氟化氢气体:

WF6 + 3 H2 → W + 6 HF

产生的钨层的结晶度可以通过改变WF6/H2混合物的比例和基质温度来控制。低WF6/H2比率和温度可以形成(100)定向的钨微晶,而较高的比例和温度有利于形成(111)定向。这个沉积过程的缺点是会形成具有强腐蚀性的HF蒸气,会腐蚀掉大多数材料。此外,沉积的钨与二氧化硅的粘附性较差,而二氧化硅是半导体电子产品中的主要钝化材料。因此,SiO2在钨沉积之前必须用额外的缓冲层覆盖。另一方面,HF的蚀刻可能有利于去除不需要的杂质层。[4]

甲硅烷和甲锗烷 编辑

用WF6/SiH4混合物沉积钨的特征是高速、良好的附着力和平整度。它的缺点是可能会爆炸,而且沉积速率和形态对工艺参数(例如混合物比例、基质温度等)高度敏感。因此,甲硅烷通常用于创建薄的钨层。然后将还原剂切换为氢气,这会减慢沉积速度并清理该层。[4]

WF6/GeH4混合物的沉积类似WF6/SiH4,但其中的钨层会有10–15%的锗。这会使钨的电阻从5 µΩ·cm增加到200 µΩ·cm。[4]

危险性 编辑

六氟化钨是腐蚀性极强的化合物,会攻击任何组织。WF6和湿气反应会产生氢氟酸,所以WF6的储存容器有聚四氟乙烯垫圈。[15]

参考文献 编辑

  1. ^ Roucan, J.-P.; Noël-Dutriaux, M.-C. . Ed. Techniques Ingénieur. : 138 [2021-12-15]. (原始内容存档于2022-01-04). 
  2. ^ Gas chart (页面存档备份,存于互联网档案馆) (dead link 3 September 2019)
  3. ^ Tungsten Hexafluoride MSDS (PDF). [永久失效連結]
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  5. ^ . CVD Fundamentals. TimeDomain CVD. [2021-12-15]. (原始内容存档于2009-09-14). 
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  9. ^ . [2021-12-15]. (原始内容存档于2021-12-15). 
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  15. ^ (PDF). Linde Gas. (原始内容 (PDF)存档于2010-02-12). 

六氟化钨, 为氟与钨形成的无机化合物, 化学式wf6, 它是无色, 有毒, 具腐蚀性的气体, 密度约为13, 是空气密度的约11倍, 也是密度最大的气体之一, 半导体器件制造行业通常用wf6的化学气相沉积来形成钨膜, 这一层膜用于低电阻率的金属互联, 它是十七种已知的二元六氟化物之一, tungsten, fluoride, ball, stick, model, tungsten, hexafluorideiupac名tungsten, hexafluoridetungsten, fluoride识别cas号, . 六氟化钨为氟与钨形成的无机化合物 化学式WF6 它是无色 有毒 具腐蚀性的气体 密度约为13 g L 是空气密度的约11倍 1 2 3 也是密度最大的气体之一 4 半导体器件制造行业通常用WF6的化学气相沉积来形成钨膜 这一层膜用于低电阻率的金属互联 5 它是十七种已知的二元六氟化物之一 六氟化钨Tungsten VI fluoride Ball and stick model of tungsten hexafluorideIUPAC名Tungsten hexafluorideTungsten VI fluoride识别CAS号 7783 82 6 PubChem 522684SMILES F W F F F F FInChI 1S 6FH W h6 1H q 6 p 6性质化学式 WF6摩尔质量 297 830 g mol 外观 无色气体密度 12 4 g L 气态 4 56 g cm3 9 C 固态 熔点 2 3 C 275 K 沸点 17 1 C 290 K 溶解性 水 水解结构分子构型 八面体偶极矩 0危险性欧盟编号 未列出闪点 不可燃相关物质其他阴离子 六氯化钨六溴化钨其他阳离子 六氟化铬六氟化钼相关化学品 四氟化钨五氟化钨若非注明 所有数据均出自标准状态 25 100 kPa 下 目录 1 结构 2 制备 3 反应 4 应用 4 1 硅 4 2 氢气 4 3 甲硅烷和甲锗烷 5 危险性 6 参考文献结构 编辑WF6分子是八面体形的 空间对称群 Oh 它的W F键长为6990183199999999999 183 2 pm 6 在2 3到17 C之间 六氟化钨会凝聚成浅黄色液体 密度7003344000000000000 3 44 g cm3 7002288150000000000 15 C 在7002275450000000000 2 3 C 以下时 它会凝固成立方晶系的白色固体 晶格参数628 pm 计算的密度为7003399000000000000 3 99 g cm3 在7002264149999999999 9 C 以下 六氟化钨晶体会变成正交晶系 晶格参数a 6990960299999999999 960 3 pm b 6990871300000000000 871 3 pm 和c 6990504399999999999 504 4 pm 密度为7003456000000000000 4 56 g cm3 在这个相态下 W F键长为181 pm 平均最接近的分子间距离是6990312000000000000 312 pm WF6气体是已知密度最高的气体之一 甚至比氡 9 73 g L 还高 液态和固态WF6的密度中等 7 WF6在 70到17 C下的蒸汽压可以通过以下方程描述 log10 P 4 55569 1021 208 T 208 45 其中P 蒸汽压 巴 T 温度 C 8 9 制备 编辑六氟化钨通常是由氟气和钨粉在350至400 C下直接反应而成的 10 W 3 F2 WF6反应产生的气态产物通过蒸馏与常见的杂质WOF4分离 在直接氟化的一种变体中 将金属置于加热的反应器中 略微加压至1 2至2 0 psi 8 3至13 8 kPa 把恒定流量的WF6注入到少量氟气中 11 反应中的氟气可以被替换成ClF ClF3 或BrF3 另一种制备六氟化钨的方法是三氧化钨 WO3 和HF BrF3或SF4的反应 六氟化钨也可以从六氯化钨开始合成 4 WCl6 6 HF WF6 6 HCl WCl6 2 AsF3 WF6 2 AsCl3 WCl6 3 SbF5 WF6 3 SbF3Cl2反应 编辑六氟化钨会和水反应 形成氢氟酸 HF 和钨的氟氧化物 最终形成三氧化钨 4 WF6 3 H2O WO3 6 HFWF6并不是一种有用的氟化剂 也不是强氧化剂 它可以被还原成黄色的WF4 12 应用 编辑六氟化钨主要应用于半导体工业的化学气相沉积工艺中 以沉积钨金属 1980年代和1990年代该行业的扩张导致WF6的消费量增加 全球每年的消费量仍保持在200吨左右 钨金属因其相对较高的热稳定性和化学稳定性 以及低电阻 5 6 µW cm 和电迁移而具有吸引力 由于WF6有较高的蒸气压 导致较高的沉积速率 因此优于如WCl6或WBr6的相关化合物 自1967年以来已经开发并采用了两条WF6的沉积路线 即热分解和用氢气还原 13 这个工艺需要的WF6气体纯度很高 根据应用的不同 六氟化钨需要的纯度在99 98 和99 9995 之间变化 4 在化学气相沉积中 WF6分子需要分解 通常通过与氢气 甲硅烷 甲锗烷 乙硼烷 磷化氢和相关的含氢气体混合促进分解 硅 编辑 WF6会和硅基质反应 4 WF6在硅上的分解反应依赖于温度 2 WF6 3 Si 2 W 3 SiF4 低于400 C WF6 3 Si W 3 SiF2 高于400 C 这种依赖性至关重要 因为在较高温度下消耗的硅是低温下的两倍 钨的沉积仅选择性地发生在纯硅上 在氧化硅或氮化硅上则不能 因此该反应对污染或基板预处理高度敏感 这条分解反应较快 但当钨层厚度达到10 15微米就饱和了 这是因为钨层阻止了WF6分子扩散到硅基质 而硅是该过程中分子分解的唯一催化剂 4 如果分解反应不是在惰性环境 而是在含氧环境中发生 产生的层就会是氧化钨 而不是金属钨 14 氢气 编辑 六氟化钨和氢气的沉积过程在300到800 C下发生 并产生氟化氢气体 WF6 3 H2 W 6 HF产生的钨层的结晶度可以通过改变WF6 H2混合物的比例和基质温度来控制 低WF6 H2比率和温度可以形成 100 定向的钨微晶 而较高的比例和温度有利于形成 111 定向 这个沉积过程的缺点是会形成具有强腐蚀性的HF蒸气 会腐蚀掉大多数材料 此外 沉积的钨与二氧化硅的粘附性较差 而二氧化硅是半导体电子产品中的主要钝化材料 因此 SiO2在钨沉积之前必须用额外的缓冲层覆盖 另一方面 HF的蚀刻可能有利于去除不需要的杂质层 4 甲硅烷和甲锗烷 编辑 用WF6 SiH4混合物沉积钨的特征是高速 良好的附着力和平整度 它的缺点是可能会爆炸 而且沉积速率和形态对工艺参数 例如混合物比例 基质温度等 高度敏感 因此 甲硅烷通常用于创建薄的钨层 然后将还原剂切换为氢气 这会减慢沉积速度并清理该层 4 WF6 GeH4混合物的沉积类似WF6 SiH4 但其中的钨层会有10 15 的锗 这会使钨的电阻从5 µW cm增加到200 µW cm 4 危险性 编辑六氟化钨是腐蚀性极强的化合物 会攻击任何组织 WF6和湿气反应会产生氢氟酸 所以WF6的储存容器有聚四氟乙烯垫圈 15 参考文献 编辑 Roucan J P Noel Dutriaux M C Proprietes Physiques des Composes Mineraux Ed Techniques Ingenieur 138 2021 12 15 原始内容存档于2022 01 04 Gas chart 页面存档备份 存于互联网档案馆 dead link 3 September 2019 Tungsten Hexafluoride MSDS PDF 永久失效連結 4 0 4 1 4 2 4 3 4 4 4 5 4 6 4 7 4 8 Lassner E Schubert W D Tungsten Properties Chemistry Technology of the Element Alloys and Chemical Compounds Springer 1999 111 168 2021 12 15 ISBN 0 306 45053 4 原始内容存档于2022 01 04 Tungsten and Tungsten Silicide Chemical Vapor Deposition CVD Fundamentals TimeDomain CVD 2021 12 15 原始内容存档于2009 09 14 Lide D R 编 CRC Handbook of Chemistry and Physics 86th Boca Raton FL CRC Press 2005 ISBN 0 8493 0486 5 p 4 93 Levy J The structures of fluorides XIII The orthorhombic form of tungsten hexafluoride at 193 K by neutron diffraction Journal of Solid State Chemistry 1975 15 4 360 365 doi 10 1016 0022 4596 75 90292 3 Cady George H Hargreaves George B 306 Vapour pressures of some fluorides and oxyfluorides of molybdenum tungsten rhenium and osmium Journal of the Chemical Society Resumed Royal Society of Chemistry RSC 1961 1568 ISSN 0368 1769 doi 10 1039 jr9610001568 存档副本 2021 12 15 原始内容存档于2021 12 15 Priest H F Swinehert C F Anhydrous Metal Fluorides Audrieth L F 编 Inorganic Syntheses 3 Wiley Interscience 1950 171 183 ISBN 978 0 470 13162 6 doi 10 1002 9780470132340 ch47 US patent 6544889 Method for tungsten chemical vapor deposition on a semiconductor substrate 发行于2003 04 08 Greenwood N N Earnshaw A Chemistry of the Elements 2nd Oxford Butterworth Heinemann 1997 ISBN 0 7506 3365 4 Aigueperse J Mollard P Devilliers D Chemla M Faron R Romano R Cuer J P Fluorine Compounds Inorganic Ullmann 编 Encyclopedia of Industrial Chemistry Weinheim Wiley VCH 2005 Kirss R U Meda L Chemical vapor deposition of tungsten oxide PDF Applied Organometallic Chemistry 1998 12 3 155 160 2021 12 16 doi 10 1002 SICI 1099 0739 199803 12 3 lt 155 AID AOC688 gt 3 0 CO 2 Z hdl 2027 42 38321 nbsp 原始内容 PDF 存档于2021 08 28 Tungsten hexafluoride MSDS PDF Linde Gas 原始内容 PDF 存档于2010 02 12 取自 https zh wikipedia org w index php title 六氟化钨 amp oldid 75624867, 维基百科,wiki,书籍,书籍,图书馆,

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