单粒子翻转, 英文缩写seu, single, event, upsets, 航天电子学术语, 原因是在空间环境下存在着大量高能带电粒子, 计算机中的cmos电子元器件受到地球磁场, 宇宙射线等照射, 引起电位状态的跳变, 变成, 或者, 变成, 但一般不会造成器件的物理性损伤, 指标用率来描述, 率是器件每天每位发生的概率, 计算质子率的一般性公式, displaystyle, infty, sigma, varphi, cdot, 其中, displaystyle, 为阈值能量, 单位mev, displays. 单粒子翻转英文缩写SEU Single Event Upsets 航天电子学术语 原因是在空间环境下存在着大量高能带电粒子 计算机中的CMOS电子元器件受到地球磁场 宇宙射线等照射 引起电位状态的跳变 0 变成 1 或者 1 变成 0 但一般不会造成器件的物理性损伤 单粒子翻转指标用单粒子翻转率来描述 单粒子翻转率是器件每天每位发生单粒子翻转的概率 计算质子单粒子翻转率的一般性公式 R p E 0 s p E f E d E S E U b i t d displaystyle R p int E 0 infty sigma p E varphi E dE SEU bit cdot d 其中 E 0 displaystyle E 0 为阈值能量 单位MeV s p E displaystyle sigma p E 为质子单粒子翻转截面积 单位c m 2 b i t displaystyle cm 2 bit f E displaystyle varphi E 为质子微分流量 取自 https zh wikipedia org w index php title 单粒子翻转 amp oldid 74532712, 维基百科,wiki,书籍,书籍,图书馆,