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ATPG

自動測試圖樣產生(英語:Automatic test pattern generation, ATPG)系統是一種工具,產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。

超大型積體電路测试平台,要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作,因為它的複雜度很高。 針對组合逻辑电路(Combinatorial logic)和时序逻辑电路(Sequential logic)的電路測試,必須要使用不同的 ATPG 方法。

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atpg, 自動測試圖樣產生, 英語, automatic, test, pattern, generation, 系統是一種工具, 產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用, 超大型積體電路的测试平台, 要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作, 因為它的複雜度很高, 針對组合逻辑电路, combinatorial, logic, 和时序逻辑电路, sequential, logic, 的電路測試, 必須要使用不同的, 方法, 参见, 编辑可测试性设计, 故障模式, 英语, fault, model, 特殊應用積. 自動測試圖樣產生 英語 Automatic test pattern generation ATPG 系統是一種工具 產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用 超大型積體電路的测试平台 要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作 因為它的複雜度很高 針對组合逻辑电路 Combinatorial logic 和时序逻辑电路 Sequential logic 的電路測試 必須要使用不同的 ATPG 方法 参见 编辑可测试性设计 故障模式 英语 Fault model 特殊應用積體電路 超高速集成电路 取自 https zh wikipedia org w index php title ATPG amp oldid 56711177, 维基百科,wiki,书籍,书籍,图书馆,

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