IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer （页面存档备份，存于互联网档案馆） A technical presentation on Design-for-Test centered on JTAG and Boundary Scan
Electronic Design Automation For Integrated Circuits Handbook, by Lavagno, Martin and Scheffer, ISBN 0-8493-3096-3 A survey of the field of electronic design automation. This summary was derived (with permission) from Vol I, Chapter 21, Design For Test, by Bernd Koenemann.
延伸阅读
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976.
可测试性设计, 英語, design, testing或英語, design, testability, 是一种集成电路设计技术, 它是一種将特殊结构在设计阶段植入电路的方法, 以便生產完成后进行测试, 確保檢測過後的電子元件沒有功能或製造上的缺陷, 电路测试有时并不容易, 电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测, 通过在半導體製程中添加结构, 如扫描链等, 並利用自動測試設備執行測試程式, 可以在生產完成後立即進行品質檢測, 有些特定的裝置會在其最終產品的組件上加上測試功能, 在消費者的使用環境下執行時一併測. 可测试性设计 英語 Design for testing或英語 Design for Testability DFT 是一种集成电路设计技术 它是一種将特殊结构在设计阶段植入电路的方法 以便生產完成后进行测试 確保檢測過後的電子元件沒有功能或製造上的缺陷 电路测试有时并不容易 电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测 通过在半導體製程中添加可测试性设计结构 如扫描链等 並利用自動測試設備執行測試程式 可以在生產完成後立即進行品質檢測 有些特定的裝置會在其最終產品的組件上加上測試功能 在消費者的使用環境下執行時一併測試 測試程式除了會指出錯誤資訊外 還會一併將測試的紀錄檔保留下來 可供設計人員找出缺陷的來源 更簡單的說 測試程式會對所有的被測裝置輸入測試訊號 並期待它們給出預期的正確回應 如果被測裝置的回應與預期回應一致 則可得知電路正常 否則 即為測試錯誤 為了方便使用測試程式檢測錯誤 電路設計階段不可忽視可測試性設計 在可測試性設計的規則確認完善下 可以利用自動測試圖樣產生器進行更複雜的測試 参考文献 编辑IEEE Std 1149 1 JTAG Testability Primer 页面存档备份 存于互联网档案馆 A technical presentation on Design for Test centered on JTAG and Boundary Scan Electronic Design Automation For Integrated Circuits Handbook by Lavagno Martin and Scheffer ISBN 0 8493 3096 3 A survey of the field of electronic design automation This summary was derived with permission from Vol I Chapter 21 Design For Test by Bernd Koenemann 延伸阅读 编辑Laung Terng Wang Cheng Wen Wu and Xiaoqing Wen VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability Morgan Kaufmann ISBN 978 0123705976 相关条目 编辑扫描链 内建自测试 电子测试设备 ATPG Design for X 英语 Design for X 故障分級 英语 Fault grading Iddq測試 英语 Iddq testing 这是一篇與科技相關的小作品 你可以通过编辑或修订扩充其内容 查论编 取自 https zh wikipedia org w index php title 可测试性设计 amp oldid 67231182, 维基百科，wiki，书籍，书籍，图书馆，
