俄歇电子能谱学（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技術主要藉由俄歇效應進行分析而命名之。產生於受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使後者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出來的電子稱為俄歇電子。1953年，俄歇电子能谱逐漸開始被實際應用於鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析[1][2][3][4]。其特點是俄歇電子來自淺層表面，僅帶出表面的資訊，並且其能譜的能量位置固定，容易分析。
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延伸阅读
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一月 31, 2023
俄歇电子能谱学, auger, electron, spectroscopy, 簡稱aes, 是一种表面科学和材料科学的分析技术, 因此技術主要藉由俄歇效應進行分析而命名之, 產生於受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使後者逃脫離開原子, 這一連串事件稱為俄歇效應, 而逃脫出來的電子稱為俄歇電子, 1953年, 俄歇电子能谱逐漸開始被實際應用於鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析, 其特點是俄歇電子來自淺層表面, 僅帶出表面的資訊, 並且其能譜的能量位置固定, 容易分析, 氮化铜薄膜派生模. 俄歇电子能谱学 Auger electron spectroscopy 簡稱AES 是一种表面科学和材料科学的分析技术 因此技術主要藉由俄歇效應進行分析而命名之 產生於受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使後者逃脫離開原子 這一連串事件稱為俄歇效應 而逃脫出來的電子稱為俄歇電子 1953年 俄歇电子能谱逐漸開始被實際應用於鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析 1 2 3 4 其特點是俄歇電子來自淺層表面 僅帶出表面的資訊 並且其能譜的能量位置固定 容易分析 氮化铜薄膜派生模式的俄歇光谱参见 编辑UPS 紫外光电子能谱学 for gases aka PES PES 光电子发射光谱学 for solid surfaces aka UPS ZEKE 零电子动能 spectroscopy XPS X射线光电子能谱学参考资料 编辑 Thomas A Carlson Photoelectron and Auger Spectroscopy New York Plenum Press 1975 ISBN 0 306 33901 3 Briggs David Martin P Seah Practical Surface Analysis by Auger and X ray Photoelectron Spectroscopy Chichester John Wiley amp Sons 1983 ISBN 0 471 26279 X Thompson Michael M D Baker A Christie J F Tyson Auger Electron Spectroscopy Chichester John Wiley amp Sons 1985 ISBN 0 471 04377 X Davis L E ed Modern Surface Analysis Metallurgical Applications of Auger Electron Spectroscopy AES and X ray Photoelectron Spectroscopy XPS Warrendale The Metallurgical Society of AIME 1980 ISBN 0 89520 358 8 延伸阅读 编辑An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES J F Watts J Wolstenholme published by Wiley amp Sons 2003 Chichester UK ISBN 978 0 470 84713 8 Jenkins Leslie H M F Chung Auger electron energies of the outer shell electrons Surface Science September 1970 22 2 479 485 Bibcode 1970SurSc 22 479C doi 10 1016 0039 6028 70 90099 3 Larkins F P Semiempirical Auger electron energies for elements 10 Z 100 Atomic Data and Nuclear Data Tables October 1977 20 4 311 387 Bibcode 1977ADNDT 20 311L doi 10 1016 0092 640X 77 90024 9 Burhop E H S Le rendement de fluorescence Journal de Physique et le Radium July 1955 16 7 625 629 doi 10 1051 jphysrad 01955001607062500 法语 Worthington C R G Tomlin The Intensity of Emission of Characteristic X Radiation Proceedings of the Physical Society Series A May 1956 69 5 401 412 Bibcode 1956PPSA 69 401W doi 10 1088 0370 1298 69 5 305 Paparazzo E Comment on AES and SAM microanalysis of structure ceramics by thinning and coating the backside Yu and Jin Surface and Interface Analysis December 2001 31 12 1110 1111 doi 10 1002 sia 1144 Auger Electron Spectroscopy J Wolstenholme published by Momentum Press LLC 2015 New York ISBN 978 1 60650 681 3 print 978 1 60650 682 0 e book 取自 https zh wikipedia org w index php title 俄歇电子能谱学 amp oldid 71046346, 维基百科，wiki，书籍，书籍，图书馆，
