开尔文探针力显微鏡（Kelvin probe force microscope, KPFM）是一種原子力顯微鏡，於1991年問世[1]。开尔文探针力显微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。
In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height in order to map the work function of the surface.
參考编辑
^M. Nonnenmacher, M. P. O'Boyle, and H. K. Wickramasinghe. (PDF). Appl. Phys. Lett. 1991, 58 (25): 2921. Bibcode:1991ApPhL..58.2921N. doi:10.1063/1.105227. （原始内容 (free-download pdf)存档于2009-09-20）.
連結编辑
Masaki Takihara. . Takahashi Lab., Institute of Industrial Science, University of Tokyo. 9 December 2008 [29 February 2012]. （原始内容存档于2012-10-29）. – Full description of the principles with good illustrations to aid comprehension
十月 11, 2023
开尔文探针力显微鏡, kelvin, probe, force, microscope, kpfm, 是一種原子力顯微鏡, 於1991年問世, 利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力, 從而達到檢測的目的, 具有原子級的分辨率, kelvin, probe, force, microscopy, conducting, cantilever, scanned, over, surface, constant, height, order, work, function, surface, 參考. 开尔文探针力显微鏡 Kelvin probe force microscope KPFM 是一種原子力顯微鏡 於1991年問世 1 开尔文探针力显微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力 從而達到檢測的目的 具有原子級的分辨率 In Kelvin probe force microscopy a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height in order to map the work function of the surface 參考 编辑 M Nonnenmacher M P O Boyle and H K Wickramasinghe Kelvin probe force microscopy PDF Appl Phys Lett 1991 58 25 2921 Bibcode 1991ApPhL 58 2921N doi 10 1063 1 105227 原始内容 free download pdf 存档于2009 09 20 連結 编辑Masaki Takihara Kelvin probe force microscopy Takahashi Lab Institute of Industrial Science University of Tokyo 9 December 2008 29 February 2012 原始内容存档于2012 10 29 Full description of the principles with good illustrations to aid comprehension 取自 https zh wikipedia org w index php title 开尔文探针力显微鏡 amp oldid 54615006, 维基百科，wiki，书籍，书籍，图书馆，
