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扫描电化学显微镜

扫描电化学显微镜(缩写SECM)基于电化学原理工作,可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。

利用驱动非常小的电极(探针)在靠近样品处进行扫描,样品可以是导体绝缘体半导体,从而获得对应的微区电化学和相关信息,目前可达到的最高分辨率约为几十纳米

扫描电化学显微镜, 此條目没有列出任何参考或来源, 2008年11月4日, 維基百科所有的內容都應該可供查證, 请协助補充可靠来源以改善这篇条目, 无法查证的內容可能會因為異議提出而被移除, 缩写secm, 基于电化学原理工作, 可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流, 利用驱动非常小的电极, 探针, 在靠近样品处进行扫描, 样品可以是导体, 绝缘体或半导体, 从而获得对应的微区电化学和相关信息, 目前可达到的最高分辨率约为几十纳米, 这是一篇與科技相關的小作品, 你可以通过编辑或修订扩充其内容, 查论编, . 此條目没有列出任何参考或来源 2008年11月4日 維基百科所有的內容都應該可供查證 请协助補充可靠来源以改善这篇条目 无法查证的內容可能會因為異議提出而被移除 扫描电化学显微镜 缩写SECM 基于电化学原理工作 可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流 利用驱动非常小的电极 探针 在靠近样品处进行扫描 样品可以是导体 绝缘体或半导体 从而获得对应的微区电化学和相关信息 目前可达到的最高分辨率约为几十纳米 这是一篇與科技相關的小作品 你可以通过编辑或修订扩充其内容 查论编 取自 https zh wikipedia org w index php title 扫描电化学显微镜 amp oldid 42131603, 维基百科,wiki,书籍,书籍,图书馆,

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