光學解析度[1]是用來描述光學成像系統解析物體細節的能力。
最為世人所接受的解析度準則是由英國瑞利爵士所提出的瑞利判別準則（Rayleigh criterion），當兩個等強度且不相干的光狹縫亮紋互相靠近而快要重疊時，兩者的光強度疊加之後，中心處亮暗紋的光強度比最亮處的光強度小一些，減小成為約 81% （），如此，恰好可以判斷出來是來自於兩個不同的光狹縫。[1]
相關條目參考文獻 光學解析度, 是用來描述光學成像系統解析物體細節的能力, 最為世人所接受的解析度準則是由英國瑞利爵士所提出的瑞利判別準則, rayleigh, criterion, 當兩個等強度且不相干的光狹縫亮紋互相靠近而快要重疊時, 兩者的光強度疊加之後, 中心處亮暗紋的光強度比最亮處的光強度小一些, 減小成為約, displaystyle, frac, approx, 如此, 恰好可以判斷出來是來自於兩個不同的光狹縫, 相關條目, 编辑角解析度, 平方米每像素, 分辨率, 1951, usaf分辨力测试图, 最小可分辨反差,. 光學解析度 1 是用來描述光學成像系統解析物體細節的能力 最為世人所接受的解析度準則是由英國瑞利爵士所提出的瑞利判別準則 Rayleigh criterion 當兩個等強度且不相干的光狹縫亮紋互相靠近而快要重疊時 兩者的光強度疊加之後 中心處亮暗紋的光強度比最亮處的光強度小一些 減小成為約 81 8 p 2 81 14 displaystyle frac 8 pi 2 approx 81 14 如此 恰好可以判斷出來是來自於兩個不同的光狹縫 1 相關條目 编辑角解析度 平方米每像素 分辨率 1951 USAF分辨力测试图 最小可分辨反差 英语 Minimum resolvable contrast Siemens star 英语 Siemens star Superlens 英语 Superlens 超解析度影像 英语 Super resolution imaging 參考文獻 编辑 1 0 1 1 Hecht Eugene Optics 4th United States of America Addison Wesley 2002 424 ISBN 0 8053 8566 5 英语 这是一篇與光學相關的小作品 你可以通过编辑或修订扩充其内容 查论编 取自 https zh wikipedia org w index php title 光學解析度 amp oldid 68103214, 维基百科，wiki，书籍，书籍，图书馆，
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