^ Zangwill, A., Physics At Surfaces, Cambridge University Press: p21, 1988 引文格式1维护:冗余文本 (link)
^Seiler, H. Secondary electron emission in the scanning electron microscope. Journal of Applied Physics. 1983-11, 54 (11): R1–R18. doi:10.1063/1.332840.
^Cazaux, Jacques. Some considerations on the secondary electron emission, δ, from e− irradiated insulators. Journal of Applied Physics. 1999-01-15, 85 (2): 1137–1147. doi:10.1063/1.369239.
一月 08, 2023
二次電子, secondary, electrons, 又称次级电子, 是描述物體表面被一主要輻射照射後, 發射出的低能量產物電子, 该主要輻射可以是具有足夠能量的離子, 電子或是光子, 屬於二次發射, 英语, secondary, emission, 的一種, 目录, 原理, 應用, 另见, 參考文獻原理, 编辑, 低能量電子的平均自由徑, 電子在固體裡的非彈性平均自由徑, inelastic, mean, free, path, 通常是具有普遍性, 也就是說無關於甚麼材料, 這個距離對金屬來說, 通常是在幾奈米. 二次電子 Secondary electrons 又称次级电子 是描述物體表面被一主要輻射照射後 發射出的低能量產物電子 该主要輻射可以是具有足夠能量的離子 電子或是光子 二次電子屬於二次發射 英语 secondary emission 的一種 目录 1 原理 2 應用 3 另见 4 參考文獻原理 编辑 低能量電子的平均自由徑 電子在固體裡的非彈性平均自由徑 inelastic mean free path 通常是具有普遍性 也就是說無關於甚麼材料 1 這個距離對金屬來說 通常是在幾奈米內 對絕緣體來說 在十幾奈米內 一般来说距离越小测量精度越高 2 3 而對低能量的電子 lt 5eV 來說 則有更長的平均自由徑 應用 编辑二次電子的原理被應用在電子倍增管 光電倍增管 微通道板 法拉第杯與戴利偵測器等偵測元件 也用在掃描電子顯微鏡 另见 编辑掃描電子顯微鏡 埃弗哈特 索恩利探测器參考文獻 编辑 Zangwill A Physics At Surfaces Cambridge University Press p21 1988 引文格式1维护 冗余文本 link Seiler H Secondary electron emission in the scanning electron microscope Journal of Applied Physics 1983 11 54 11 R1 R18 doi 10 1063 1 332840 Cazaux Jacques Some considerations on the secondary electron emission d from e irradiated insulators Journal of Applied Physics 1999 01 15 85 2 1137 1147 doi 10 1063 1 369239 取自 https zh wikipedia org w index php title 二次電子 amp oldid 51778656, 维基百科,wiki,书籍,书籍,图书馆,